Pattern recognition with support vector machines first international workshop, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 ; proceedings

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	SVM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Lee, Seong-Whan (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2002
Schriftenreihe:	Lecture notes in computer science 2388
Schlagworte:	Pattern recognition systems > Congresses > Machine learning > Konferenzschrift > Mustererkennung > Support-Vektor-Maschine
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Kapitel 1 Cover Inhaltstext
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