Comparative analyses of expected shortfall and value-at-risk (3) their validity under market stress

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Yamai, Yasuhiro (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Yoshiba, Toshinao (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Tokyo 2002
Schriftenreihe:	IMES discussion paper series 2002,2
Schlagworte:	Messung > Theorie > Risikomaß > Arbeitspapier > Graue Literatur
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Beschreibung
Beschreibung:	Internetausg.: http://www.imes.boj.or.jp/english/publication/edps/fedps2002_index.html
Beschreibung:	70 S graph. Darst