Eighteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : March 12 - 14, 2002, Fairmont Hotel, San Jose, CA, USA ; [proceedings 2002]

Eighteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium March 12 - 14, 2002, Fairmont Hotel, San Jose, CA, USA ; [proceedings 2002]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn), Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Wilson, Jim (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 2002
Schlagworte:
Konferenzschrift > Erwärmung > Kühlung
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE catalog number 02CH37311, 02CD373111C
Beschreibung:XII, 196 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0780373278
0-7803-7327-8
0780373286
0-7803-7328-6
0780366514
0-7803-6651-4