Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

Literaturverz. S. 377 - 417

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Chakraborty, Kanad (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Mazumder, Pinaki (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Upper Saddle River, NJ Prentice Hall PTR 2002
Schriftenreihe:Prentice Hall modern semiconductor design series
Schlagworte:
Random access memory > Reliability > Integrated circuits > Fault tolerance > Semiconeductor storage devices > Semiconductor storage devices > RAM > Reliabilität > Fehlertoleranz
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Literaturverz. S. 377 - 417
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XIX, 426 S
graph. Darst
24 cm
ISBN:0130084654
0-13-008465-4