Application of a secondary-electron transmission monitor for high-precision intensity measurements of relativistic heavy-ion beams

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Jurado, B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Schmidt, K.-H. (VerfasserIn), Behr, K.-H. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Darmstadt GSI 2001
Schriftenreihe:GSI-Preprint 2001,19
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