Application of a secondary-electron transmission monitor for high-precision intensity measurements of relativistic heavy-ion beams

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Jurado, B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Schmidt, K.-H. (VerfasserIn), Behr, K.-H. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Darmstadt GSI 2001
Schriftenreihe:	GSI-Preprint 2001,19
Schlagworte:	Forschungsbericht
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!