Proceedings / 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : August 6 - 7, 2001, San Jose, California, USA

Proceedings / 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing August 6 - 7, 2001, San Jose, California, USA

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (VerfasserIn), IEEE Computer Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Zorian, Yervant (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2001
Schlagworte:
Semiconductor storage devices > Testing > Random access memory > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE Computer Society order number PR01242. - Literaturangaben
Beschreibung:VIII, 108 S
graph. Darst
ISBN:0769512429
0-7695-1242-9
0769512437
0-7695-1243-7
0769512445
0-7695-1244-5