X-ray micro- and nano-focusing: applications and techniques II 30 July 2001, San Diego, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	McNulty, Ian (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2001
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 4499
Schlagworte:	X-ray optics > X-ray microscopes > Imaging systems
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	VII, 144 S
ISBN:	0819442135 0-8194-4213-5