IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition 8 - 14 December 2001, Kauai, Hawaii, USA

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (VerfasserIn), IEEE Computer Society (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2001
Ausgabe:	[Elektronische Ressource]
Schlagworte:	Konferenzschrift > Maschinelles Sehen > Mustererkennung
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