Object detection, classification, and tracking technologies : 22 - 24 October 2001, Wuhan, China

Object detection, classification, and tracking technologies 22 - 24 October 2001, Wuhan, China

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Shen, Jun (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2001
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 4554
Schlagworte:
Optical pattern recognition > Pattern recognition systems > Automatic tracking > Image processing > Detectors > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:XI, 298 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0819442828
0-8194-4282-8