Optical measurement systems for industrial inspection II application in production engineering ; 20 - 21 June 2001, Munich, Germany
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bellingham, Wash.
SPIE
2001
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Schriftenreihe: | SPIE proceedings series
4399 |
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Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
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Beschreibung: | VII, 138 S |
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ISBN: | 0819440949 0-8194-4094-9 |