Papers selected from the 2000 Symposium on Electrical Overstress/Electrostatic Discharge (EOS/ESD)
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Oxford
Pergamon
2001
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Schriftenreihe: | Microelectronics reliability
41.2001,11 |
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Beschreibung: | S. 1740-1913 |
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