Special issue on International Mixed Signal Testing Workshop [June 2001, at Lake Lanier near Atlanta] /guest ed.: A. Osseiran ...
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| Körperschaft: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Amsterdam u.a.
Elsevier
2002
|
| Schriftenreihe: | Microelectronics journal
33.2002,10 |
| Schlagworte: | |
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