Special issue on International Mixed Signal Testing Workshop [June 2001, at Lake Lanier near Atlanta] /guest ed.: A. Osseiran ...

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Mixed Signal Testing Workshop (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Osseiran, Adam (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2002
Schriftenreihe:	Microelectronics journal 33.2002,10
Schlagworte:	Konferenzschrift
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