Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the international symposium

Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale proceedings of the international symposium

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Electrochemical Society Corrosion Division (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Hansen, Douglas C. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Pennington, NJ Electrochemical Society 2001
Schriftenreihe:Proceedings volume / Electrochemical Society 2000-35
Schlagworte:
Scanning electrochemical microscopy > Scanning probe microscopy > Nanostructures > Surface chemistry > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:VIII, 212 S
ISBN:1566773024
1-56677-302-4