Proceedings / 19th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2001 : April 24 - 3 May, 2001, Marina Del Rey, California, USA

Proceedings / 19th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2001 April 24 - 3 May, 2001, Marina Del Rey, California, USA

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2001
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Kongr.-Thema: Test and diagnosis in a nanometric world
IEEE Computer Society order number PR01122
Beschreibung:XXXIII, 417 S
ISBN:0769511228
0-7695-1122-8
0769511236
0-7695-1123-6
0769511244
0-7695-1124-4