Möglichkeiten der Entladungsmeßtechnik mit einem optimierten Kurzzeitkamerasystem bei mit hochfrequent oszillierender Stoßspannung beanspruchter SF6-N2-Gasisolierungen

Möglichkeiten der Entladungsmeßtechnik mit einem optimierten Kurzzeitkamerasystem bei mit hochfrequent oszillierender Stoßspannung beanspruchter SF6-N2-Gasisolierungen

Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2000

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zender, Christoph (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Tübingen MVK, Medien-Verl. Köhler 2000
Schriftenreihe:Darmstädter Dissertation
Schlagworte:
Hochschulschrift > Metallgekapselte Schaltanlage > Schwefelhexafluorid > Stickstoff > Gasisolierung > Hochspannungsisolierung > Spannungsfestigkeit > Schaltstoßspannung > Trennschalter > Gasdurchschlag > Ultrakurzzeitfotografie
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