Möglichkeiten der Entladungsmeßtechnik mit einem optimierten Kurzzeitkamerasystem bei mit hochfrequent oszillierender Stoßspannung beanspruchter SF6-N2-Gasisolierungen

Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2000

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Zender, Christoph (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Tübingen MVK, Medien-Verl. Köhler 2000
Schriftenreihe:	Darmstädter Dissertation
Schlagworte:	Hochschulschrift > Metallgekapselte Schaltanlage > Schwefelhexafluorid > Stickstoff > Gasisolierung > Hochspannungsisolierung > Spannungsfestigkeit > Schaltstoßspannung > Trennschalter > Gasdurchschlag > Ultrakurzzeitfotografie
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2000
Beschreibung:	141 S Ill., graph. Darst 21 cm
ISBN:	3932694864 3-932694-86-4