Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe

Zugl.: Berlin, Univ., Habil.-Schr., 1999

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Genzel, Christoph (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin Hahn-Meitner-Inst. 1999
Schriftenreihe:	HMI-B 569 Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse
Schlagworte:	Hochschulschrift > Polykristall > Oberfläche > Eigenspannung
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