The Fifth IUMRS International Conference on Advanced Materials Beijing, People's Republic of China, June 13 - 18, 1999 ; symposium GG: advanced materials characterization imaging
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Weitere Verfasser: | |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Amsterdam u.a.
Elsevier
2000
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Schriftenreihe: | Materials characterization Special issue
44,4/5 |
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Beschreibung: | S. 347-457 |
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