Stöchiometrieuntersuchungen von Schichtsystemen für die Nanoelektronik

München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2000

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bieringer, Peter (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2000
Schlagworte:	Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2000
Beschreibung:	VI, 143 S Ill., graph. Darst