Fault modeling and test techniques for analog and mixed-signal circuits

Austin, Univ. of Texas, Ph. D. Thesis, 1998

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Chen, Jin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ann Arbor, Mich. Bell & Howell Information and Learning 1999
Schlagworte:	Hochschulschrift
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