Proceedings / 18th IEEE VLSI Test Symposium

Proceedings / 18th IEEE VLSI Test Symposium

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2000
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE Computer Society order number + IEEE order plan catalog number PR00613
Beschreibung:XXXIX, 478 S
graph. Darst
ISBN:0769506135
0-7695-0613-5
0769506151
0-7695-0615-1