Special issue on 16th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 98) [15 papers]
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Dordrecht u.a.
Kluwer
1999
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| Schriftenreihe: | Journal of electronic testing
15.1999,1/2 |
| Schlagworte: | |
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