Special issue on 16th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 98) [15 papers]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	VLSI Test Symposium (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Nicolaidis, Michael (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht u.a. Kluwer 1999
Schriftenreihe:	Journal of electronic testing 15.1999,1/2
Schlagworte:	Konferenzschrift
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