The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ehrstein, James R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Croarkin, M. Carroll (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington U.S. Gov. Print. Off. 1999
Ausgabe:	1999 ed
Schriftenreihe:	Standard reference materials 131
Schlagworte:
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