Proceedings of the 8th International Autumn Meeting Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, Höör, Schweden, September 25 - 28, 1999

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	GADEST (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Grimmeiss, Hermann G. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Uetikon-Zürich u.a. Scitec Publications 1999
Schriftenreihe:	Diffusion and defect data / B 69/70
Schlagworte:	Konferenzschrift > Halbleitertechnologie > Gitterbaufehler
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!