Proceedings / 17th IEEE VLSI Test Symposium

Proceedings / 17th IEEE VLSI Test Symposium

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 1999
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE Computer Society order number + IEEE order plan catalog number PR00146
Beschreibung:XXXII, 488 S
ISBN:076950146X
0-7695-0146-X
0769501486
0-7695-0148-6