X-ray microscopy and spectromicroscopy status report from the fifth international conference, Würzburg, August 19 - 23, 1996 ; [based on presentation to the International Conference of X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy, XRM]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	XRM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Thieme, Jürgen (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Budapest, Hong Kong, London, Milan, Paris, Santa Clara, Singapore, Tokyo Springer 1998
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!