Scanning probe methods and near field microscopies July 4 - 6, 1994, Aix-en-Provence, France

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Dumas, Ph. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	LesUlis Les Éd. de Physique 1994
Schriftenreihe:	Microscopy, microanalysis, microstructures 5,4/6
Schlagworte:	Konferenzschrift
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