Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und in-situ Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen

Zugl.: Regensburg, Univ., Diss., 1997

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kastner, Marcus J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Regensburg Roderer 1997
Schriftenreihe:	Theorie und Forschung / Physik 10 = 488 [d. Gesamtw.] Theorie und Forschung 488
Schlagworte:	Hochschulschrift > Zwei-Sechs-Halbleiter > Heterostruktur
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