Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES and XPS

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Grasserbauer, Manfred (BerichterstatterIn), Dudek, Hans-Joachim (BerichterstatterIn), Ebel, Maria F. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Berlin Akad.-Verl. 1986
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Beschreibung
Beschreibung:	VIII, 300 S 152 Ill. u. graph. Darst., 29 Tab