Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Joy, David C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, Oxford Oxford University Press 1995
Schriftenreihe:	Oxford series on optical sciences 9
Schlagworte:	Electron microscopy > Computer simulation > Electron probe microanalysis > Monte Carlo method > Elektronenstreuung > Monte-Carlo-Simulation > Elektronenmikroskopie > Elektronenstrahlmikroanalyse
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Publisher description Table of contents
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