Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Joy, David C. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, Oxford Oxford University Press 1995
Schriftenreihe:Oxford series on optical sciences 9
Schlagworte:
Electron microscopy > Computer simulation > Electron probe microanalysis > Monte Carlo method > Elektronenstreuung > Monte-Carlo-Simulation > Elektronenmikroskopie > Elektronenstrahlmikroanalyse
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Bibliography: p207-211. - Includes index
Beschreibung:VIII, 216 S.
graph. Darst.
ISBN:0195088743
0-19-508874-3