Verfahren zur elektrischen Defektanalyse

Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hess, Christopher (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verlag 1998
Ausgabe:	Als Ms. gedr
Schriftenreihe:	Fortschrittberichte VDI Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik 278
Schlagworte:	Hochschulschrift > Halbleitertechnologie > Fehlerortung > Elektrische Messung > Integrierte Schaltung > CAT > Entwurfsautomation
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998
Beschreibung:	Literaturverz. S. 191 - 202
Beschreibung:	XI, 202 S. Ill., graph. Darst Ill., graph. Darst.
ISBN:	318327809X 3-18-327809-X