Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken

Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken

Zugl.: Frankfurt am Main, Univ., Diss., 1994

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hahn, Ralf (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Fortschritt-Berichte VDI Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren 159
Schlagworte:
Hochschulschrift > Integrierte Schaltung > Fertigungsfehler > Fehlersimulation > Testmuster > Datenstruktur > Algorithmus
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Frankfurt am Main, Univ., Diss., 1994
Beschreibung:X, 170 S.
graph. Darst
ISBN:3183159201
3-18-315920-1