Electronics reliability and measurement technology proceedings of a conference ... held at Langley Research Center, Hampton, Va., June 3 - 5, 1986

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Langley Research Center (BerichterstatterIn), USA National Aeronautics and Space Administration (BerichterstatterIn), Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Heyman, Joseph S. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Washington, DC National Aeronautics and Space Administration, Scientif. and Techn. Information Off. 1987
Schlagworte:	Konferenzschrift
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