Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Grasserbauer, Manfred (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Dudek, Hans J. (VerfasserIn), Ebel, Maria F. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg u.a. Springer 1986
Schlagworte:
Surfaces (Physics) > Analysis > Photoelectron spectroscopy > Auger effect > Secondary ion mass spectrometry > Surface chemistry > X-ray spectroscopy > Sekundärionen-Massenspektrometrie > Auger-Spektroskopie > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:VIII, 300 Seiten
Illustrationen
25 cm
ISBN:3540150501
3-540-15050-1
0387150501
0-387-15050-1