Microscopy of semiconducting materials 1997 proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Royal Microscopical Society (BerichterstatterIn), MSM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Cullis, Anthony G. (BerichterstatterIn), Hutchison, J. L. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bristol u.a. Inst. of Physics Publ. 1997
Schriftenreihe:	Institute of Physics conference series 157
Schlagworte:	Semiconductors > Surfaces > Materials > Microscopy > Epitaxy > High resolution electron microscopy > Konferenzschrift > Mikroskopie > Oberflächenanalyse > Epitaxie > Halbleiteroberfläche
Online Zugang:	Publisher description
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