A comparative analysis of Iddq versus delay fault methods for defect oriented testing of CMOS circuits

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Vierhaus, Heinrich Theodor (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Meyer, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Sankt Augustin GMD 1993
Schriftenreihe:	Arbeitspapiere der GMD 728
Schlagworte:	Forschungsbericht
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