Optical metrology proceedings of a conference held 18 - 19 July, 1999, Denver, Colorado

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Jumaily, Ghanim A. al- (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE Optical Engineering Press 1999
Schriftenreihe:	Critical reviews of optical science and technology 72
Schlagworte:	Konferenzschrift > Optische Messtechnik
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