Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Xu, Jun (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Aachen Mainz 1999
Ausgabe:	1. Aufl
Schlagworte:	Hochschulschrift > Zinkselenid > Zinksulfid > Magnesiumsulfid > Magnesiumselenid > Mischkristall > Epitaxieschicht > Halbleiterschicht > Röntgendiffraktometrie
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
Beschreibung:	Literaturverz. S. 125 - 129
Beschreibung:	III, 145 S Ill., graph. Darst 21 cm
ISBN:	3896534777 3-89653-477-7