Untersuchung optischer und struktureller Eigenschaften von Zn-Ge-As-P-Chalkopyrit-Halbleitern mittels Elektroreflexionsspektroskopie
Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 1998
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Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Ilmenau
1998
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Zusammenfassung: | Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 1998 |
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Beschreibung: | 96 S. graph. Darst. |