Assigning patents to industries tests of the Yale technology concordance

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Economic systems research
1. Verfasser: Kortum, Samuel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Putnam, Jonathan D. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1997
Schriftenreihe:Invention input-output analysis
Schlagworte:
Patent > Industrieforschung > Schätztheorie > Theorie > Schätzung > Kanada > Aufsatz in Zeitschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:Graph. Darst
ISSN:0953-5314