Patents, R&D, and technological spillovers at the firm level some evidence from econometric count models for panel data

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied econometrics
1. Verfasser:	Cincera, Michele (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1997
Schriftenreihe:	Econometric models of event counts
Schlagworte:	Patent > Industrieforschung > Spillover-Effekt > Schätzung > Welt > Ökonometrie > Theorie > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:	0883-7252