Applications of ion beam methods in silicide/Si and silicide/GaAs nanometre structures

Zugl.: Lund, Univ., Doctoral Diss., 1998

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Zhang, Yanwen (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Lund Division of Nuclear Physics 1998
Schlagworte:	Hochschulschrift > Sekundärionen-Massenspektrometrie > Silicide > Nanostruktur
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!