Applications of ion beam methods in silicide/Si and silicide/GaAs nanometre structures

Applications of ion beam methods in silicide/Si and silicide/GaAs nanometre structures

Zugl.: Lund, Univ., Doctoral Diss., 1998

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zhang, Yanwen (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Lund Division of Nuclear Physics 1998
Schlagworte:
Hochschulschrift > Sekundärionen-Massenspektrometrie > Silicide > Nanostruktur
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Lund, Univ., Doctoral Diss., 1998
Summary ; Abstract in Chinese
Beschreibung:Enth. Zeitschriftenaufsätze
Beschreibung:Getr. Zählung
Ill., graph. Darst
ISBN:9162832662
91-628-3266-2