Zur Struktur von intrinsischen Defekten in GaAs und AlxGa1-xAs : Untersuchungen mit magnetischer Vielfachresonanz

Zur Struktur von intrinsischen Defekten in GaAs und AlxGa1-xAs Untersuchungen mit magnetischer Vielfachresonanz

Zugl.: Paderborn, Univ., Habil.-Schr., 1998

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Koschnick, Friedrich-Karl (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Koschnick, Friedrich Karl (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Aachen Shaker 1999
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Berichte aus der Halbleitertechnik
Schlagworte:
Hochschulschrift > Galliumarsenid > Gitterbaufehler > ODMR-Spektroskopie > Elektronenspinresonanzspektroskopie > Aluminiumarsenid > Mischkristall
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Paderborn, Univ., Habil.-Schr., 1998
Beschreibung:194 S
graph. Darst
21 cm
ISBN:3826547098
3-8265-4709-8