Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium : April 26 - 30, 1998, Monterey, California

Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium April 26 - 30, 1998, Monterey, California

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: VLSI Test Symposium (VerfasserIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society Press 1998
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE order plan catalog number 98TB100231. IEEE Computer Society Press order number PR08436
Beschreibung:XXXV, 472 S
graph. Darst
ISBN:0818684364
0-8186-8436-4
0818684380
0-8186-8438-0