Scattering and surface roughness II 21 - 23 July 1998, San Diego, California

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Gu, Zu-Han (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1998
Schriftenreihe:	SPIE proceedings series 3426
Schlagworte:	Konferenzschrift
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